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IEC 60068-2-61:1991 Environmental testing Part 2:Test methods Test Z/ABDM:Climatic sequence.pdf
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當(dāng)我們購買電子設(shè)備或工業(yè)組件時(shí),常常會關(guān)心它在不同氣候條件下的表現(xiàn):高溫會不會損壞?潮濕環(huán)境會不會短路?低溫啟動是否正常?為了科學(xué)評估產(chǎn)品在各種極端氣候下的可靠性,國際電工委員會(IEC)制定了 IEC 60068-2-61:1991 標(biāo)準(zhǔn),其中定義了一套系統(tǒng)的測試方法——Test Z/ABDM:Climatic sequence(氣候序列)。
IEC 60068-2-61 是一項(xiàng)國際標(biāo)準(zhǔn),屬于“環(huán)境測試”系列中的第二部分。它定義了一種復(fù)合氣候測試方法,通過模擬一系列氣候應(yīng)力(如高溫、低溫、濕熱、低氣壓等),在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)加速并放大產(chǎn)品在自然氣候中可能出現(xiàn)的退化機(jī)制。
該標(biāo)準(zhǔn)尤其適用于電子組件,也可擴(kuò)展至其他電工產(chǎn)品。測試的核心目的是驗(yàn)證產(chǎn)品在連續(xù)氣候應(yīng)力下的密封性、結(jié)構(gòu)完整性和功能穩(wěn)定性。
該標(biāo)準(zhǔn)主要適用于:
電子組件(如集成電路、電容器、連接器等);
其他電工產(chǎn)品,只要其退化機(jī)制與測試條件相符;
常用于質(zhì)量評估系統(tǒng)(如IECQ)中的可靠性驗(yàn)證。
測試通常在完成機(jī)械應(yīng)力測試(如振動、沖擊)后進(jìn)行,用于檢測產(chǎn)品是否因前期測試導(dǎo)致密封性受損。
高溫測試(Dry heat)
濕熱循環(huán)測試(Damp heat cyclic)
低溫測試(Cold)
低氣壓測試(Low air pressure,可選)
恢復(fù)階段(Recovery)
高溫試驗(yàn)箱:用于模擬干熱環(huán)境;
濕熱試驗(yàn)箱:可控制溫濕度循環(huán);
低溫試驗(yàn)箱:用于模擬低溫環(huán)境;
低氣壓試驗(yàn)箱:模擬高海拔或低壓環(huán)境;
自動轉(zhuǎn)移系統(tǒng)(可選):用于在不同測試箱之間自動轉(zhuǎn)移樣品,提高測試連貫性。
注意:若使用單一試驗(yàn)箱進(jìn)行所有測試,需特別注意各階段之間的轉(zhuǎn)換條件,避免因箱體慣性、冷凝水等影響測試準(zhǔn)確性。
測試過程中及結(jié)束后,樣品需在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件(通常為溫度15℃–35℃,相對濕度25%–75%)下進(jìn)行恢復(fù),以確保測試結(jié)果的穩(wěn)定性。恢復(fù)時(shí)間一般為1–2小時(shí),部分情況下可延長至24小時(shí)。
標(biāo)準(zhǔn)定義了三種測試方法:
共5個(gè)階段,順序如下:
高溫暴露(16小時(shí))
1次濕熱循環(huán)
低溫暴露(2小時(shí))
低氣壓測試(可選,60分鐘)
多次濕熱循環(huán)(根據(jù)氣候類別決定次數(shù))
僅適用于特定氣候類別,在濕熱循環(huán)之間插入低溫測試,共進(jìn)行4輪“濕熱-低溫”交替。
適用于批次驗(yàn)收測試,步驟較少,時(shí)間較短。
測試設(shè)備需符合各單項(xiàng)測試標(biāo)準(zhǔn)(如IEC 68-2-1、IEC 68-2-30等);
設(shè)備應(yīng)能精確控制溫度、濕度、氣壓;
若使用自動轉(zhuǎn)移系統(tǒng),應(yīng)確保樣品在各階段之間的轉(zhuǎn)移不影響恢復(fù)條件;
試驗(yàn)箱應(yīng)具備良好的密封性和溫濕度均勻性。
測試前需進(jìn)行預(yù)處理(至少1小時(shí));
測試過程中可進(jìn)行中間測量,但會延長測試時(shí)間;
測試結(jié)束后需進(jìn)行最終檢查,包括外觀、尺寸和功能驗(yàn)證;
樣品在測試期間允許有不超過72小時(shí)的間隔,但需在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下保存;
編寫測試規(guī)范時(shí)需明確:測試方法、溫度值、循環(huán)次數(shù)、是否包含低壓測試等。
IEC 60068-2-61 標(biāo)準(zhǔn)通過科學(xué)的“氣候序列”測試,幫助企業(yè)和研發(fā)人員提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在復(fù)雜氣候環(huán)境下的潛在缺陷,提升產(chǎn)品的可靠性與耐久性。無論是智能手機(jī)、汽車電子,還是工業(yè)控制器,背后都可能經(jīng)歷過這樣的“氣候模擬考驗(yàn)”。
理解這一標(biāo)準(zhǔn),不僅能幫助我們更好地選擇高質(zhì)量產(chǎn)品,也體現(xiàn)了現(xiàn)代工業(yè)對“可靠性設(shè)計(jì)”的嚴(yán)謹(jǐn)追求。
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